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  芯片测试座


 

ic test socket

芯片测试座

稳定传输,卓越测试寿命

 

 

 

 

           

 

芯片测试座被广泛使用于后段制程中的可靠度测试(Reliability Test),其最大的特点是无需焊接至电路板(PCB)即可测试芯片,协助工程团队快速并精确的执行检验程序。

岱镨的芯片测试座可支持老化测试(Burn-in Test)、封装测试(Packaging Test)、以及最终测试(Final Test)。

 

 


 

 

弹簧针测试座 Pogo Pin Socket
 

弹簧针测试座拥有绝佳的设计弹性,可因应客户需求调整合金材料、探针结构以及电镀…等元素,因此能支持最广泛的测试条件,包含高频、高速及广温域。目前最小可支持的测试芯片尺寸为0.8 x 0.8 mm。

 

支持测试类型:
可靠度测试(Reliability Test)、封装测试(Packaging Test)
 

支持机构类型:
Opentop Type 开盖式、Clamshell Type 翻盖式、Knob IC Socket 旋钮式  

   
 

 

导电橡胶测试座 Rubber Socket

 

导电橡胶测试座(Rubber Socket)又名Elastomer Socket或PCR Socket,由软胶材质内置导电金粒构成,拥有极佳的讯号电性,适用于高频、高速、低电感、低电压、等高阶芯片测试,并可确保锡球不会留下压痕(Probe mark)。

支持测试类型:
可靠度测试(Reliability Test)、封装测试(Packaging Test)
 

支持机构类型:
Opentop Type 开盖式、Clamshell Type 翻盖式、Knob IC Socket 旋钮式

   
 

 

 

同轴式弹簧针测试座 Coaxial Socket

 

专为车联网、数据中心等高速传输芯片设计,可支持工程及量产测试,同轴式结构可最大限度地降低传输阻抗干扰及耗损,提升讯号传递效率。

 

支持测试类型:
封装测试(Packaging Test)
 

支持机构类型:
Opentop Type 開蓋式、Clamshell Type 翻蓋式、Knob IC Socket 旋鈕式



 

 

 

一站式服务

严格品质控管,自产自销有保障

  

 

快速出货

下单后的2-4周内快速出货

  

 

精实研发团队

多年开发经验,快速协助半导体客户制作晶片测试座