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【產業知識】一文看懂 Pogo Pin:測試工程師最常問的 15 條 Q&A

2026-01-06


一文看懂 Pogo Pin:測試工程師最常問的 15 條 Q&A

 

Pogo Pin(彈簧探針) 作為半導體測試與量產中主流且關鍵的接觸介面,以其優異的彈性設計、耐高溫特性及高使用壽命而廣泛應用於產業鏈中。以下我們整理了 Pogo Pin測試探針在選型、應用與維護上最常見的技術問題與解答,協助您更全面了解其特性與適用情境。
 

Q1: 什麼是 Pogo Pin彈簧探針?

Pogo Pin探針內含彈簧結構,能在 IC 與測試治具之間提供穩定接觸力,補償焊盤高度與間距公差,適合高重複性和精密測試。


Q2: Pogo Pin 的用途有哪些?

Pogo Pin(彈簧探針)作為半導體測試與量產中主流且關鍵的接觸介面,以其優異的高使用壽命、耐高溫特性、穩定的電性傳輸及高密度(Fine Pitch)適用性而廣泛應用於產業鏈中。主要應用範疇包括:

  • IC 功能測試(Functional Test
  • IC 燒錄(Programming
  • PCB / PCBA 測試(ICT / FCT
  • Kelvin Test(四線式量測)
  • 老化測試(Burn-in Test
  • 量產線自動化測試
  • 研發與工程驗證(R&D / EVT / DVT

 

Q3: Pogo Pin的優勢是什麼?

Pogo Pin 彈簧探針與低成本探針(沖壓針、夾片針)相比,具備以下專業優勢:

  • 彈簧力穩定:內建彈簧提供持續且穩定的軸向接觸壓力,確保在數十萬次到百萬次循環中,接觸電阻依然保持極低且一致,遠超依賴彈性變形的沖壓針。
     
  • 優異電性表現:因其精密製造與模組化特性,能夠比一般沖壓針或夾片針提供更短、電性更優異的訊號傳導路徑,確保高頻率測試下訊號的穩定性與完整性。
     
  • 高適應性與低維護:擁有極寬的工作溫度範圍(如-55°C至175°C,適用於高溫老化測試;同時,單獨可更換的設計,也大幅簡化了維護流程與長期成本。)
     
  • 耐磨耐用:設計可承受高循環次數,壽命長,適合大量 FT 測試。
     
  • 高精度接觸:精密的探針製造工藝可有效降低組合公差累積,進而提升測試點定位精度。

 

Q4: Pogo Pin適合測試哪些 IC 封裝類型?

適用 WLCSP、BGA、QFN、CSP、LGA、SOP 等封裝。選擇需考慮焊盤尺寸、間距、焊球高度及材料,尖端形狀、行程與彈簧力需匹配封裝特性。

 

Q5: Pogo Pin的使用壽命 (Lifespan) 有多長?壽命如何定義?

探針壽命指在保持測試可靠性與精度前提下,能承受的最大循環次數。探針針尖仍能維持低接觸電阻、穩定彈簧力與完整尖端形狀即為壽命內。當針尖磨損、氧化、沾錫或彈簧力衰減超過規範,則視為壽命結束。探針規格書保證機械壽命通常為200K次,實際使用時,因上述問題可能會在50~150K次就提前結束。

 

Q6: Pogo Pin如何應對高速/高頻測試需求?

PCR 適用於 BGA、QFN、LGA、WLCSP 等多種封裝,尤其適合需要保護錫球 (Solder ball)結構的精細封裝類型。
 

Q7: IC 測試中探針接觸電阻為何重要?

接觸電阻影響訊號精確度與穩定性。高接觸電阻會造成電壓降或訊號失真。一般新針電阻要求需低於 80 mΩ,高速 FT 測試可能會要求更低。

 

Q8: 探針彈簧彈力如何影響測試品質?

彈簧彈力過高可能損傷 IC 焊盤,過低會導致接觸不良或訊號波動。FT 探針彈力設計通常為 15g~35g ±20%。

 

Q9: 探針行程過短會有哪些問題?

接觸力不足,接觸電阻不穩,可能造成訊號衰減或測試失敗,對高速訊號尤為敏感。

 

Q10: FT 探針尖端鍍金厚度如何影響使用壽命?

鍍金厚度決定耐磨性與抗氧化能力。厚度過薄 (<1 μm) 易磨穿、接觸阻抗升高;過厚會影響尖端精度與成本。常見鍍層厚度規範為 2~3 μm。

 

Q11: 探針在多次 FT 循環後容易出現接觸不良,原因可能是什麼?

探針長時間、多次循環使用後,探針針尖磨損、針尖表面污染或焊錫附著會減少接觸面積並增加接觸電阻。此外,彈簧力衰減可能導致針尖與IC接觸不良;治具定位誤差或焊球高度偏差也會影響接觸。

 

Q12: 探針彈簧疲勞會出現哪些現象?

高循環下,彈簧回彈力下降,接觸力不足或不均勻,接觸電阻升高,尖端可能無法完全接觸焊球。可透過測試彈簧力曲線和監控接觸電阻判斷。

 

Q13: 探針磨耗後如何判定是否需更換?更換方式為何?

當探針因長期使用出現接觸電阻上升、測試訊號不穩、針尖磨損或彈簧回彈力下降等情況,且無法透過清潔或校正改善時,通常可直接針對失效的單支探針進行更換,並於更換後重新進行接觸電阻與功能測試,以確保作業恢復穩定。

 

Q14: 探針針尖污染會如何影響測試?

探針針尖如灰塵、氧化膜、助焊劑殘留會增加接觸電阻,導致訊號不穩或接觸失敗。需定期清潔探針。我們建議使用酒精搭配專用清潔刷清潔,如果效果不佳才會選用奈米鋼刷等高破壞力的清潔手法。

 

Q15: 為何選擇岱鐠彈簧探針? 

客製化速度 x MIT品質 x IC產業基因

  1. 快速客製化能力:岱鐠具備彈簧探針的設計與製造經驗,可依不同 IC 封裝形式、尺寸、Pin 數與 Pitch 需求,進行針尖結構、材質、行程與彈力的客製化設計。
     
  2. MIT製造品質:彈簧探針由岱鐠自行設計並控管製程,從針尖結構、彈簧規格到組裝品質皆有一致標準,確保接觸穩定度與使用壽命,同時維持穩定供貨與合理成本。
     
  3. IC產業基因:岱鐠彈簧探針實際導入自家燒錄座與量產應用中,能根據長時間使用與現場回饋持續優化針尖結構與彈力設計;相較僅提供單一零組件的供應商,更能快速調整設計參數,以滿足 IC 產業對接觸穩定性與耐用度的實際需求。

 


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彈簧探針 Pogo Pin
最終測試座 Final Test Socket
開蓋式測試座 Open Top Socket
老化測試座 Burn-in Socket

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