最終測試座 Final Test Socket

最終測試座 Final Test Socket是專為車聯網、資料中心等高速傳輸晶片設計，可支援工程及量產測試，同軸式結構可最大限度地降低傳輸阻抗干擾及耗損，提升訊號傳遞效率。客戶可以選擇雙扣旋鈕、掀蓋旋鈕或掀蓋壓塊類型的手測蓋。最終測試座可以根據IC性能、封裝類型、測試環境進行客製化，適用於各種測試環境，包括高頻、高速傳輸和寬溫度範圍測試。彈簧針採用專門的材料技術，亦顯著提高了測試良率與產品效能。

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老化測試座 Burn-in Socket

DediProg的老化測試座（Burn-in Socket）採用模組化設計，可依測試需求安裝散熱器或ITC模組。內含高性能彈簧針，可提供穩定和廣溫域測試表現。針對高腳數測試，我們亦提供專利的省力結構，確保易於使用。

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開蓋式測試座 Open Top Socket

開蓋式測試座常用於自動化測試設備，其模組化設計簡化了生產流程，並且可以選擇高性能彈簧探針Pogo Pin以延長產品使用壽命。開蓋式測試座擁有絕佳的設計彈性，可因應客戶需求調整合金材料、探針結構以及電鍍…等元素，因此能支援最廣泛的測試條件，包含高頻、高速及廣溫域等測試條件。

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DDR5/DDR4 模組測試座 Module Test Socket

隨著DDR5/DDR4 SDRAM 所需之傳輸速率提升，岱鐠採用超薄型導電膠(PCR)，實現DDR5/DDR4 模組測試座高速訊號傳輸(>6000MHz)之絕佳表現。SDRAM 晶片常見尺寸有7.5x11、9x11、10x11等不同的封裝尺寸，岱鐠提供快速更換的限位框設計，方便使用者能在最短的時間內完成更換。
 

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彈簧探針 Pogo Pin

岱鐠專注於 Pogo Pin 材料和製造工藝的研發。針對不同的測試需求，提供相對應的材料技術來減少清潔頻率並提高測試良率。我們接受訂製各式探針規格、包含外型、材質、彈力，也可提供 S 參數的模擬報告。

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導電橡膠 Pressure Conductive Silicone Rubber, P.C.R

高速傳輸、低電阻、不損傷錫球。特殊的成型技術使導電粒子緊密排列，從而在接觸和電阻方面表現出優異性能。

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多年開發經驗，快速協助半導體客戶量產IC測試座