岱鐠科技的 ITC(獨立溫度控制)Test Socket 是一款專為 IC 老化測試設計的高精度測試治具。不同於傳統透過高溫測試系統同時加熱多顆 IC 的方式,ITC Test Socket 採用高精度溫度感測器,搭配溫控系統使用便可為每顆 IC 提供獨立且精確的加熱控制,有效避免溫度不均或加熱失準等問題,進而提升測試數據的可靠性,幫助客戶提升測試效率、縮短測試週期,並有效降低測試成本。
→ 了解岱鐠ITC Test Socket如何解決傳統IC老化測試的挑戰
ITC Test Socket | |
接觸元件 | Pogo Pin |
適用IC封裝 | 所有IC封裝 |
適用IC尺寸 | 1x1mm ~ 30x30mm |
最大引腳數 | ~2000 Pin |
最小間距 | 0.30mm |
頻寬 | <25GHz |
操作溫度 | -55℃ ~ 175℃ |
熱功率 | 30W |
HTOL使用壽命 | 1000小時 |
ITC Test Socket |
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為您提供最高效的IC測試解決方案,助您加速產品開發流程。
產品 | 檔案類型 | 檔案描述 | 版本 | 下載 | 檔案大小 | 更新日期 |
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IC Part Number | Manufacturer | Chip Type |
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Socket Adaptor | Package | IC Size - Length(mm) | IC Size - Width(mm) | IC Size - Pitch(mm) | Remark |
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