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DediProg的老化測試座(Burn-in Socket)採用模組化設計,可依測試需求安裝散熱器或ITC模組,並透過熱分析進行評估。內含高性能彈簧針,可提供穩定和廣溫域測試表現。針對高腳數測試,我們亦提供專利的省力結構,讓使用更加便捷。
| 接觸元件 | 彈簧探針 Pogo Pin |
| 使用壽命 Life Time | ~ 1,000,000 Cycle |
| 最小間距 Pitch | >0.15mm |
| 溫域 Temperature | -55℃ to 175℃ |
| 頻寬 Bandwidth | <25GHz |
| 適用IC封裝 | 所有IC封裝 |
| 維修方便程度 | 低 |
| 型號 Model | M2632 | M2632-HS | M5060 | M5060-HS |
| Withstand voltage AC 700V For 1 Min. Insulation Resistance 1000MΩ at DC 500V | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
| Outer Diameter | 26 x 32mm | 26 x 32mm | 50 x 60mm | 50 x 60mm |
| IC Size Range | 0.8 x 0.8mm ~ 13 x 13mm | 0.8 x 0.8mm ~ 13 x 13mm | < 30 x 30mm | < 30 x 30mm |
| Operation Temperature | -55~150 ℃ | |||
| Max. Pin Count | ~300 Pin | ~300 Pin | ~3000 Pin | ~3000 Pin |
| Thermal Power Diss. | ~2W | ~10W | ~10W | ~50W |
![]() | HAST (Highly-Accelerated Temperature & Humidity Stress Test) 溫溼度試驗 → 130°C / 85% at 480hrs |
| HTOL (High Temperature Operating Life Test) 高溫壽命試驗 → 150°C at 1000hrs | |
| LTOL (Low Temperature Operating Life Test) 低溫壽命試驗 → -55°C at 1000hrs |
型號: M5060 / M7080 老化測試座 |
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型號: M2632 老化測試座 |
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問:Burn-in Socket的主要應用有哪些?
Burn-in Socket 主要用於 IC 老化測試(Burn-in Testing),特別適合需要高溫、高電流或長時間運行的測試環境,用於驗證 IC 的可靠性與耐久性,確保出貨晶片品質穩定。
問:Burn-in Socket 的主要特色是什麼?
Burn-in Socket 專為長時間高溫、高電流測試設計,可穩定固定 IC,提供均勻分壓力,並支援高效散熱,確保測試過程安全可靠,同時維持訊號完整性。
問:Burn-in Socket 採用哪些材料?
Burn-in Socket 通常採用耐高溫工程塑料,具備尺寸穩定等特性,可承受長時間高溫、高循環測試;配合高耐磨金屬或鍍層探針,確保接觸可靠性。針對高頻或高功率 IC,部分Socket會使用低介電或高導熱塑料,以提升散熱效率與測試精度。
問:Burn-in Socket 採用模組化有什麼優勢?
模組化設計可加速新產品開發,提升生產效率,並保持測試可靠性與穩定性。即使在高溫、高電流及長時間運行下仍保持可靠性與一致性。
為您提供最高效的IC測試解決方案,助您加速產品開發流程。
| 產品 | 檔案類型 | 檔案描述 | 版本 | 下載 | 檔案大小 | 更新日期 |
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| IC Part Number | Manufacturer | Chip Type |
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| Socket Adaptor | Package | IC Size - Length(mm) | IC Size - Width(mm) | IC Size - Pitch(mm) | Remark |
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